什么是缺陷密度？
缺陷密度是在特定的操作或开发期间在软件/模块中确认的缺陷数量除以软件/模块的大小，使人们能够决定一款软件是否已经可发布。
缺陷密度是按每千行代码计算的，也称为Kloc。
如何计算缺陷密度
一个测量缺陷密度的公式：
缺陷密度 = 缺陷数量 / 发布功能大小
发布功能大小可以用代码行(LoC)来衡量。
缺陷密度示例
假设软件产品中集成了3个模块。每个模块都发现了以下数量的错误-
- 模块1=10个错误
- 模块2=20个错误
- 模块3=10个错误
错误总数=10+20+10=40
每个模块的代码总行为
- 模块1=1000 LOC
- 模块2=1500 LOC
- 模块3=500 LOC
代码总行=1000+1500+500=3000
缺陷密度计算如下：
缺陷密度 = 40/3000 = 0.013333
一种缺陷密度标准
然而，缺陷密度没有固定的标准，研究表明，每千行代码中有一个缺陷通常被认为是项目质量良好的标志。
影响缺陷密度度量的因素
- 代码复杂性
- 计算中考虑的缺陷类型
- 在计算缺陷密度时考虑的持续时间
- 开发人员或测试人员技能
缺陷密度的优势
- 有助于测量测试的有效性
- 有助于区分组件/软件模块中的缺陷
- 在确定需要更正或改进的模块时非常有用
- 在指向高风险组件时非常有用
- 有助于确定各种资源的分配需求
- 可以帮助估计由于缺陷而进行的测试和返工。
- 可以估计软件中剩余的缺陷
- 在发布之前，可以确定测试是否足够
- 可以确保数据库具有标准的缺陷密度
